可控硅怎么测量好坏

可控硅测量是对可控硅（晶闸管）性能进行检测的过程，主要通过万用表等工具测量其电极间的电阻、导通状态和触发特性等参数，以判断其是否正常工作。可控硅，也称为硅控制整流器，是一种四层三端的半导体器件，主要用于电力电子领域中的交流/直流转换、调压、整流等应用。以下是测量可控硅好坏的步骤和方法。

一、外观检查

在进行任何电气测量之前，首先进行外观检查是必要的。检查可控硅的封装是否有裂纹、烧痕或其他物理损坏的迹象。如果外观有明显的损坏，那么可控硅很可能已经损坏。

二、使用万用表测量

1、测量正向电阻

使用万用表的电阻档位，将万用表的红色探针连接到可控硅的阳极，黑色探针连接到阴极。正常情况下，应该能够测量到一个较低的正向电阻值。如果测量到的电阻值非常高或无限大，那么可控硅可能已经损坏。

2、测量反向电阻

将万用表的红色探针连接到阴极，黑色探针连接到阳极，测量反向电阻。正常情况下，反向电阻应该非常高或无限大。如果反向电阻值较低，那么可控硅可能存在问题。

3、测量门极触发能力

可控硅的门极需要一个较小的电流来触发其导通。使用万用表的二极管档位，将红色探针连接到门极，黑色探针连接到阴极。正常情况下，当门极被触发时，可控硅应该导通，万用表会显示一个较低的电压降。如果门极触发后，可控硅仍然不导通，那么它可能已经损坏。

三、使用示波器测量

1、测量门极触发电压

使用示波器可以更精确地测量门极触发电压。将示波器的探头连接到门极和阴极之间，然后施加一个触发信号。正常情况下，当门极电压达到触发阈值时，可控硅应该导通，示波器上会显示一个电压跳变。

2、测量导通和关断特性

在可控硅导通后，移除触发信号，观察可控硅是否能够保持导通状态。如果可控硅在移除触发信号后立即关断，那么它可能存在问题。正常情况下，可控硅应该在移除触发信号后仍然保持导通状态，直到阳极和阴极之间的电压降低到一定值以下。

四、实际电路测试

在实验室条件下，将可控硅安装到实际电路中进行测试是验证其性能的最终步骤。在电路中，可控硅应该能够根据控制信号正确地导通和关断。如果可控硅在实际电路中不能正常工作，那么它很可能已经损坏。

通过上述步骤，可以对可控硅的好坏进行初步判断。需要注意的是，这些测试方法只能提供基本的故障诊断，对于更复杂的故障，可能需要专业的测试设备和技术人员进行进一步的分析和维修。在日常使用中，定期检查和维护可控硅，可以延长其使用寿命并减少故障发生的概率。

阅读剩余 50%