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SJ 50033/119-1997《半导体分立器件CS204型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范》基本信息
标准号：SJ 50033/119-1997
中文名称：《半导体分立器件CS204型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范》
发布日期：1997-06-17
实施日期：1997-10-01
发布部门：中华人民共和国电子工业部
提出单位：中华人民共和国电子工业部
归口单位：中国电子技术标准化研究所
起草单位：电子工业部第五十五研究所
中国标准分类号：L5961
SJ 50033/119-1997《半导体分立器件CS204型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范》介绍
《半导体分立器件CS204型砷化镓微波功率场效应晶体管详细规范》(SJ 50033/119-1997)是一项由中华人民共和国电子工业部制定的国家标准，该标准于1997年6月17日正式发布，并于同年10月1日起正式实施。
一、适用范围
本标准适用于CS204型砷化镓微波功率场效应晶体管的生产和检测。CS204型晶体管是一种高频、高功率的半导体器件，广泛应用于雷达、通信、电子对抗等领域。通过本标准的实施，可以确保CS204型晶体管的性能满足相关应用领域的需求。
二、性能参数
1、直流参数：如阈值电压、饱和漏极电流等；
2、交流参数：如增益、输出功率、效率等；
3、频率特性：如工作频率范围、频率稳定性等；
4、可靠性参数：如热阻、寿命等。
三、测试方法
1、直流参数测试：通过测量晶体管的阈值电压、饱和漏极电流等参数，评估其直流性能；
2、交流参数测试：通过测量晶体管的增益、输出功率、效率等参数，评估其交流性能；
3、频率特性测试：通过测量晶体管的工作频率范围、频率稳定性等参数，评估其频率特性；
4、可靠性测试：通过测量晶体管的热阻、寿命等参数，评估其可靠性。
这些测试方法为CS204型晶体管的性能评估提供了科学、准确的手段。
四、质量要求
1、原材料质量控制：要求使用符合标准要求的原材料进行生产；
2、生产工艺控制：要求采用先进的生产工艺，确保晶体管的性能稳定；
3、产品检验：要求对生产出的晶体管进行严格的质量检验，确保其性能符合标准要求；
4、产品标识：要求对产品进行明确的标识，方便用户识别和使用。
