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SJ 20054-1992《半导体分立器件 3DK101型NPN硅小功率开关晶体管详细规范》

SJ 20054-1992更新时间: 2025-02-13

标准详情

SJ 20054-1992《半导体分立器件  3DK101型NPN硅小功率开关晶体管详细规范》基本信息

标准号:SJ 20054-1992

中文名称:《半导体分立器件  3DK101型NPN硅小功率开关晶体管详细规范》

发布日期:1992-11-19    

实施日期:1993-05-01

发布部门:中国电子工业总公司    

提出单位:中国电子工业总公司科技质量局    

归口单位:中国电子技术标准化研究所    

起草单位:中国电子技术标准化研究所和国营七四六厂

起草人:王长福、王承琳、谢佩兰    

中国标准分类号:A01技术管理

SJ 20054-1992《半导体分立器件  3DK101型NPN硅小功率开关晶体管详细规范》介绍

SJ 20054-1992《半导体分立器件 3DK101型NPN硅小功率开关晶体管详细规范》是中国电子工业总公司于1992年11月19日发布的一项国家标准,自1993年5月1日起正式实施。

一、适用范围

SJ 20054-1992标准适用于3DK101型NPN硅小功率开关晶体管的生产和检验。该标准规定了该类型晶体管的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和储存等方面的内容,为生产和使用该类型晶体管提供了详细的指导。

二、技术要求

1、电气特性:规定了晶体管的集电极-发射极击穿电压、集电极电流、直流电流增益等电气参数的最小值和最大值。

2、外观质量:要求晶体管的外观应无明显缺陷,如裂纹、破损等。

3、尺寸要求:规定了晶体管的外形尺寸和公差要求。

4、可靠性:要求晶体管在规定的条件下,应具有良好的可靠性和稳定性。

三、试验方法

1、电气特性测试:对晶体管的电气参数进行测试,以验证其是否符合技术要求。

2、外观检查:对晶体管的外观进行目视检查,以确保其无明显缺陷。

3、尺寸测量:对晶体管的外形尺寸进行测量,以检验其是否符合尺寸要求。

4、可靠性测试:对晶体管进行可靠性测试,以评估其在长期使用中的表现。

四、检验规则

1、检验分类:将检验分为型式检验和出厂检验两种类型。

2、抽样方法:规定了抽样的数量和方法,以确保抽样的代表性。

3、合格判定:明确了合格产品的标准和不合格产品的处理方法。

五、标志、包装、运输和储存

1、标志:产品应有清晰的型号、批号等标识。

2、包装:产品应采用适当的包装材料和方式,以防止损坏。

3、运输:产品在运输过程中应避免剧烈振动和撞击。

4、储存:产品应储存在干燥、通风的环境中,避免受潮、受热。

SJ 20054-1992《半导体分立器件 3DK101型NPN硅小功率开关晶体管详细规范》作为一项国家标准,为3DK101型NPN硅小功率开关晶体管的生产和使用提供了全面的指导和规范。通过遵循该标准,可以确保晶体管的质量和性能,满足电子设备的需求。该标准也有助于推动我国半导体分立器件行业的发展和进步。

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