GB/T 13062-1991《膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范 (采用鉴定批准程序)》

GB/T 13062-1991《膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范 (采用鉴定批准程序)》基本信息

标准号：GB/T 13062-1991

中文名称：《膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范 (采用鉴定批准程序)》

发布日期：1991-07-06    

实施日期：1992-03-01

发布部门：国家技术监督局    

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会    

起草单位：机电部43所

中国标准分类号：L55微电路综合

国际标准分类号：31.200集成电路、微电子学

GB/T 13062-1991《膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范 (采用鉴定批准程序)》介绍

国家技术监督局于1991年7月6日发布了GB/T 13062-1991《膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范 (采用鉴定批准程序)》。

一、标准概述

GB/T 13062-1991标准主要规定了膜集成电路和混合膜集成电路的空白详细规范，包括产品的定义、分类、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等方面的内容。该标准采用鉴定批准程序，以确保产品的质量和可靠性。

二、产品定义与分类

1、产品定义：膜集成电路是指将电阻器、电容器等元件以膜的形式制作在基板上，并通过导电线路连接而成的集成电路。混合膜集成电路则是在膜集成电路的基础上，加入半导体元件形成的电路。

2、产品分类：根据膜的材质和制作工艺，膜集成电路可分为金属膜、陶瓷膜、有机膜等类型。混合膜集成电路则根据半导体元件的类型和功能进行分类。

三、技术要求

1、设计要求：产品设计应满足使用环境和技术性能的要求，同时应考虑生产工艺的可行性。

2、材料要求：使用的膜材料、导电材料、半导体元件等应符合相应的国家标准或行业标准。

3、工艺要求：生产过程中应严格控制工艺参数，确保产品的性能和可靠性。

4、性能要求：产品应满足规定的电气性能、机械性能、环境适应性等要求。

四、试验方法

1、电气性能测试：包括电阻、电容、频率响应等项目的测试。

2、机械性能测试：包括引线强度、焊点强度等项目的测试。

3、环境适应性测试：包括温度、湿度、振动、冲击等环境条件下的测试。

4、耐久性测试：模拟实际使用条件下，对产品的耐久性进行测试。

五、检验规则

1、检验分类：产品检验分为出厂检验和型式检验。

2、抽样方法：根据产品数量和生产批次，采用随机抽样或系统抽样的方法。

3、判定规则：根据产品的性能指标和缺陷等级，判定产品是否合格。

六、标志、包装、运输和贮存

1、标志：产品应有清晰的型号、规格、生产日期等标志。

2、包装：产品包装应符合防震、防潮、防尘等要求。

3、运输：运输过程中应避免剧烈振动和冲击。

4、贮存：产品应存放在干燥、通风、无腐蚀性气体的环境中。

GB/T 13062-1991标准的发布和实施，对于规范膜集成电路和混合膜集成电路的生产、提高产品质量、保障电子产品的可靠性具有重要意义。相关企业应严格按照标准要求进行产品设计、生产和检验，以满足市场需求和用户期望。

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