SJ 20014-1992《半导体分立器件 ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级３ＣＧ１１０型ＰＮＰ硅小功率晶体管详细规范》

SJ 20014-1992《半导体分立器件  ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级３ＣＧ１１０型ＰＮＰ硅小功率晶体管详细规范》基本信息

标准号：SJ 20014-1992

中文名称：《半导体分立器件  ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级３ＣＧ１１０型ＰＮＰ硅小功率晶体管详细规范》

发布日期：1992-02-01    

实施日期：1992-05-01

发布部门：中国电子工业总公司    

提出单位：中国电子工业总公司科技质量局    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：中国电子技术标准化研究所和济南半导体

起草人：王长福、贾蕙蓉、钟泰富    

中国标准分类号：A01技术管理

SJ 20014-1992《半导体分立器件  ＧＰ、ＧＴ和ＧＣＴ级３ＣＧ１１０型ＰＮＰ硅小功率晶体管详细规范》介绍

SJ 20014-1992《半导体分立器件 GP、GT和GCT级 3CG110型PNP硅小功率晶体管详细规范》是中国电子工业总公司于1992年2月1日发布的一项标准。该标准自1992年5月1日起正式实施。

一、标准适用范围

SJ 20014-1992标准适用于GP、GT和GCT级3CG110型PNP硅小功率晶体管的设计、生产、测试和质量控制。这些晶体管主要用于各种电子设备中，如音响、电视、通讯设备等，作为信号放大、开关控制等功能的关键元件。

二、技术要求

1、电气特性：标准规定了晶体管的直流电流增益、集电极-发射极击穿电压、集电极最大电流等电气参数的最小值，以确保晶体管在各种工作条件下的稳定性和可靠性。

2、机械特性：标准对晶体管的封装形式、尺寸、重量等机械特性提出了要求，以便于晶体管的安装和使用。

3、环境适应性：标准规定了晶体管在不同环境条件下（如温度、湿度、振动等）的工作性能要求，以保证其在各种环境下都能正常工作。

4、质量控制：标准要求生产厂家建立严格的质量控制体系，对晶体管的生产过程进行严格控制，确保产品质量的一致性和可靠性。

三、测试方法

1、电气特性测试：对晶体管的直流电流增益、集电极-发射极击穿电压、集电极最大电流等参数进行测试，以验证其是否满足标准要求。

2、机械特性测试：对晶体管的封装形式、尺寸、重量等机械特性进行测量，以确保其符合标准规定。

3、环境适应性测试：对晶体管在不同环境条件下的工作性能进行测试，以评估其环境适应性。

4、寿命测试：对晶体管进行长时间的工作测试，以评估其寿命和可靠性。

四、质量评定

1、抽样检验：生产厂家应按照标准规定的抽样方案对产品进行抽样检验，以确保产品质量的一致性。

2、质量等级：标准将晶体管的质量等级分为优等品、一等品和合格品，生产厂家应根据产品的实际质量状况进行等级划分。

3、质量证明：生产厂家应为每批产品提供质量证明文件，包括产品规格、测试结果、质量等级等信息。

SJ 20014-1992《半导体分立器件 GP、GT和GCT级 3CG110型PNP硅小功率晶体管详细规范》作为一项重要的行业标准，对于规范我国半导体分立器件的生产和质量控制具有重要意义。通过遵循该标准，生产厂家可以提高产品的质量和可靠性。

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