SJ/T 11405-2009《光纤系统用半导体光电子器件 第2部分：测量方法》

SJ/T 11405-2009《光纤系统用半导体光电子器件 第2部分：测量方法》基本信息

标准号：SJ/T 11405-2009

中文名称：《光纤系统用半导体光电子器件 第2部分：测量方法》

发布日期：2009-11-17    

实施日期：2010-01-01

发布部门：中华人民共和国工业和信息化部    

SJ/T 11405-2009《光纤系统用半导体光电子器件 第2部分：测量方法》介绍

中华人民共和国工业和信息化部于2009年11月17日发布了SJ/T 11405-2009《光纤系统用半导体光电子器件 第2部分：测量方法》标准，自2010年1月1日起正式实施。

一、标准概述

SJ/T 11405-2009标准是针对光纤系统中使用的半导体光电子器件的测量方法的专门规定。该标准旨在为半导体光电子器件的生产、测试和使用提供统一的测量方法和要求，以确保器件的性能满足光纤通信系统的需求。

二、标准主要内容

1、术语和定义

标准首先对半导体光电子器件相关的术语和定义进行了明确，包括发光二极管(LED)、激光二极管(LD)、光电二极管(PD)、光探测器等，为后续测量方法的描述提供了基础。

2、测量条件

标准规定了测量过程中应满足的条件，包括环境温度、湿度、电源电压等，以确保测量结果的准确性和可重复性。

3、测量项目和方法

SJ/T 11405-2009标准详细规定了半导体光电子器件的测量项目和方法，包括：

发光二极管(LED)：亮度、波长、发光效率等；

激光二极管(LD)：阈值电流、输出功率、光谱特性等；

光电二极管(PD)：响应度、暗电流、击穿电压等；

光探测器：响应时间、探测率、噪声等。

针对不同的测量项目，标准提供了相应的测量方法和步骤，以确保测量结果的准确性。

4、测量设备

标准对测量设备的要求进行了规定，包括光源、功率计、光谱分析仪等，以保证测量结果的可靠性。

5、测量不确定度

标准对测量不确定度的评估方法进行了规定，要求测量结果应包含不确定度，以反映测量结果的可信度。

三、标准的意义

SJ/T 11405-2009标准的制定和实施，对于提高半导体光电子器件的质量和性能，保障光纤通信系统的稳定性和可靠性具有重要意义。通过统一的测量方法和要求，可以确保不同生产厂商和使用单位之间的测量结果具有可比性，为半导体光电子器件的选型、测试和维护提供了依据。

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