首页  >  项目标准  >  正文

超声探伤检测方法有哪些(附方法介绍)

来源:企来检 时间:2024-08-16 浏览:98

超声探伤检测方法有A型扫描法、B型扫描法、C型扫描法、穿透法、脉冲反射法、直射法、斜射法、双晶探头法、带延迟块的探伤法、串列式探伤法、相控阵超声检测。

1、A型扫描法

A型扫描法通过一个探头发射超声波,并在同一探头接收反射回来的信号。这些信号在显示屏上以波形图的形式展示,横轴代表时间或距离,纵轴代表反射信号的幅度。通过分析波形的高低和到达的时间,可以判断材料内部是否存在缺陷以及缺陷的大致位置和大小。A型扫描法适用于简单的缺陷检测,但缺乏直观的二维或三维图像表示。

2、B型扫描法

B型扫描法提供了一种二维的图像表示,通过在显示屏上横向移动探头,同时记录反射信号的强度,形成一幅平面图。这种方法可以直观地显示材料内部的缺陷分布情况,包括缺陷的位置和形状。B型扫描法常用于检测板材、焊缝和其他平面结构的缺陷,特别适用于对表面或近表面缺陷的检测。

3、C型扫描法

C型扫描法是B型扫描法的进一步发展,通过计算机软件处理B型扫描的数据,将其转换为三维图像。这种转换使得观察者可以从不同的角度和深度观察材料内部的缺陷,提供了更全面的视图。C型扫描法特别适合于检测复杂的三维结构,如铸件、锻件和复合材料,能够更准确地评估缺陷的三维形态和尺寸。

4、穿透法

穿透法使用两个探头,一个作为发射探头在材料的一侧发射超声波,另一个作为接收探头在材料的另一侧接收穿过材料的超声波。这种方法适用于检测材料的穿透性缺陷,如裂纹、孔洞等。穿透法特别适用于检测厚壁管道、板材和其他难以从单侧进行检测的材料。

5、脉冲反射法

脉冲反射法通过发射一个短暂的超声波脉冲进入材料,并监听由材料内部的缺陷或背面界面反射回来的回波。通过测量发射脉冲和接收到的反射脉冲之间的时间差,可以计算出缺陷的深度。脉冲反射法可以提供关于缺陷位置、大小和形状的信息,适用于各种材料和结构的检测,包括焊缝、锻件和铸件等。

6、直射法

直射法是一种简单的超声检测技术,探头直接对准被检测材料的表面或近表面区域。这种方法适用于检测表面的裂纹、腐蚀、磨损等缺陷。超声波直接从探头发射到材料表面,对表面处理和耦合剂的要求较高,确保超声波能够有效地进入材料并被接收。

7、斜射法

斜射法通过将探头以一定角度(通常在45°至70°之间)对准材料表面,使得超声波以斜射的方式进入材料。这种方法特别适用于检测材料内部特定深度的缺陷,如焊缝中的裂纹、夹杂物等。斜射法可以提供关于缺陷的深度和水平位置的信息。

8、双晶探头法

双晶探头法使用具有两个晶片的探头,一个用于发射超声波,另一个紧邻的晶片用于接收反射回来的超声波。这种配置可以减少由于探头移动或材料表面不平整造成的噪声,提高检测的准确性。双晶探头法常用于检测小尺寸的缺陷和进行材料厚度的测量。

9、带延迟块的探伤法

带延迟块的探伤法通过在探头和被检测材料之间加入一个延迟块(由声阻抗与被检测材料相似的材料制成),以调整探头与材料表面的距离。这种方法可以改善超声波的聚焦,提高超声波在材料中的传播效率,适用于检测曲面或不规则形状的材料。

10、串列式探伤法

串列式探伤法使用多个探头按一定顺序排列,形成一个探头阵列。这种方法可以同时发射和接收超声波,适用于检测材料的多层结构或具有复杂形状的部件。通过分析各个探头接收到的信号,可以构建出材料内部的三维图像,更准确地识别和定位缺陷。

11、相控阵超声检测

相控阵超声检测是一种先进的超声检测技术,通过电子控制探头阵列中各个晶片的发射和接收时间,实现对超声波束的动态聚焦和方向控制。这种方法可以快速扫描材料的大面积区域,检测出复杂形状和结构中的缺陷。相控阵技术提供了更高的灵活性和检测速度,适用于自动化检测和对检测精度要求较高的应用场景。

超声探伤检测原理

超声探伤检测的基本原理是利用超声波在材料中的传播特性。超声波是一种频率高于人类听觉范围的声波,具有较高的穿透力和分辨率。当超声波在材料中传播时,会遇到不同的介质界面,产生反射、折射和散射现象。通过分析这些信号,可以判断材料内部是否存在缺陷。

当超声波遇到材料内部的缺陷或界面时,部分声波会被反射回来,形成回波信号。超声波在不同介质中传播速度不同,当遇到界面时,会发生折射现象,改变传播方向。当超声波遇到材料内部的微小缺陷或不均匀结构时,会发生散射现象,形成散射信号。

阅读剩余 50%