标准详情
SJ 20176-1992《半导体分立器件 ３ＤＧ３４３９型和３ＤＧ３４４０型ＮＰＮ硅小功率高反压晶体管详细规范》基本信息
标准号：SJ 20176-1992
中文名称：《半导体分立器件 ３ＤＧ３４３９型和３ＤＧ３４４０型ＮＰＮ硅小功率高反压晶体管详细规范》
发布日期：1992-11-19
实施日期：1993-05-01
发布部门：中国电子工业总公司
提出单位：中国电子工业总公司科技质量局
归口单位：中国电子技术标准化研究所
起草单位：中国电子技术标准化研究所和国营八二三一厂
起草人：王长福、吴鑫奎、龚云
中国标准分类号：D01技术管理
SJ 20176-1992《半导体分立器件 ３ＤＧ３４３９型和３ＤＧ３４４０型ＮＰＮ硅小功率高反压晶体管详细规范》介绍
中国电子工业总公司于1992年发布了《半导体分立器件 3DG3439型和3DG3440型NPN硅小功率高反压晶体管详细规范》（以下简称"SJ 20176-1992标准"），并于1993年5月1日起正式实施。
一、技术要求
1、外观质量
晶体管的外观应无裂纹、无明显变形，表面应清洁、无油污、无锈蚀，引脚应无折断、无弯曲。
2、电性能参数
晶体管的电性能参数应满足标准规定的要求，包括集电极-发射极击穿电压、集电极电流、电流放大系数等。
3、温度特性
晶体管在规定的温度范围内应具有良好的温度特性，包括温度系数、温度稳定性等。
4、可靠性
晶体管应具有良好的可靠性，包括长时间工作稳定性、抗静电能力等。
二、试验方法
1、外观检查
对晶体管的外观进行目视检查，以确保其满足外观质量要求。
2、电性能测试
对晶体管的电性能参数进行测试，以评估其性能是否符合标准要求。
3、温度特性测试
对晶体管在不同温度下的性能进行测试，以评估其温度特性。
4、可靠性测试
对晶体管进行长时间工作、抗静电等可靠性测试，以评估其可靠性。
三、检验规则
1、检验分类
晶体管的检验分为型式检验和出厂检验。
2、抽样规则
对晶体管进行抽样检验，以评估其整体质量。
3、合格判定
根据检验结果，对晶体管进行合格判定。
四、标志、包装、运输和储存
1、标志
晶体管应有清晰的型号、规格、生产日期等标志。
2、包装
晶体管的包装应符合标准要求，以保护晶体管在运输过程中不受损坏。
3、运输
晶体管在运输过程中应避免剧烈震动、高温等不利因素。
4、储存
晶体管应储存在干燥、通风、无腐蚀性气体的环境中。
