标准详情
“非本征半导体材料导电类型测试方法”的标准号是：GB/T 1550-2018
GB/T 1550-2018《非本征半导体材料导电类型测试方法》由国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会于2018-12-28发布，并于2019-11-01实施。
该标准的起草单位为乐山市产品质量监督检验所、中国计量科学研究院、广州市昆德科技有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、浙江海纳半导体有限公司、新特能源股份有限公司、江苏中能硅业科技发展有限公司、峨嵋半导体材料研究所、洛阳中硅高科技有限公司、中锗科技有限公司等；起草人是梁洪、王莹、赵晓斌、高英、王昕、王飞尧、黄黎、徐红骞、邱艳梅、刘晓霞、杨旭、张园园、刘新军、徐远志、程小娟、潘金平、肖宗杰 。
“非本征半导体材料导电类型测试方法”介绍
非本征半导体材料的导电类型测试是半导体工艺和研究中的一个关键步骤。这些方法能够判定半导体中的主导电荷载流子是电子还是空穴，进而确定半导体是n型还是p型。热探针技术是一种常见的测试手段，通过探测半导体材料在热探针接触点的温度与塞贝克（seebeck）系数之间的关系来判断导电类型。如果热探针接触到一个热的半导体样品时产生一个正向电压，则表明该样品为n型；若产生一个负向电压，则为p型。
霍尔效应测量则是另一种重要的非本征半导体材料导电类型测试方法。它依赖于磁场影响下载流子的偏转，并由此产生的横向电压（即霍尔电压）的极性来识别导电类型。当电流穿过一个置于垂直磁场下的薄片状半导体材料时，如果载流子为电子，则横向电压将指向一个方向；如果主要载流子是空穴，则横向电压的方向相反。因此，通过对霍尔电压极性的测定，可以判断出半导体的导电类型。
这些测试不仅对于基础研究和器件设计至关重要，也是保证半导体器件性能一致性的重要环节。它们可以帮助科学家和工程师优化材料的制备工艺，提高半导体产品的性能和可靠性。
