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GB/T 22572-2008《表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法》

GB/T 22572-2008更新时间: 2025-01-12

标准详情

GB/T 22572-2008《表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法》基本信息

标准号:GB/T 22572-2008

中文名称:《表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法》

发布日期:2008-12-11    

实施日期:2009-10-01

发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局  中国国家标准化管理委员会    

提出单位:全国微束分析标准化技术委员会    

归口单位:全国微束分析标准化技术委员会    

起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心

起草人:马农农、何友琴、何秀坤    

中国标准分类号:G04基础标准与通用方法

国际标准分类号:71.040.40化学分析

GB/T 22572-2008《表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法》介绍

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局与中国国家标准化管理委员会联合发布了GB/T 22572-2008《表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法》,于2009年10月1日实施。

一、标准适用范围

本标准适用于使用二次离子质谱技术进行的表面化学分析,特别是在需要评估深度分辨参数的场合。它为实验室提供了一种评估和优化分析条件的方法,以确保分析结果的可靠性。

二、标准主要内容

1、术语和定义

本标准首先对二次离子质谱技术中的关键术语和定义进行了明确,包括“二次离子”、“质谱”、“多δ层参考物质”等,确保使用者对相关概念有清晰的理解。

2、多δ层参考物质

标准详细描述了多δ层参考物质的制备方法和特性,这些物质用于模拟实际样品的深度分布,以便在实验中评估深度分辨参数。

3、实验方法

本部分详细阐述了使用多δ层参考物质评估深度分辨参数的具体步骤,包括样品制备、仪器设置、数据采集和处理等。

4、数据处理

标准提供了数据处理的方法和步骤,包括如何从实验数据中提取深度分布信息,以及如何评估和优化深度分辨参数。

三、质量控制

为了确保分析结果的准确性,标准提出了质量控制的要求,包括对仪器性能的定期检查和对实验数据的审核。

四、标准的意义

GB/T 22572-2008的实施对于提高二次离子质谱技术在表面化学分析领域的应用水平具有重要意义。它不仅有助于实验室提高分析结果的准确性和可靠性,还有助于推动相关技术的发展和创新。

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