标准详情
“半导体发光二极管测试方法”的标准号是:SJ/T 11394-2009
SJ/T 11394-2009《半导体发光二极管测试方法》由工业和信息化部于2009-11-17发布,并于2010-01-01实施。
该标准的起草单位为中国光学光电子行业协会光电器件分会;起草人是鲍超。
“半导体发光二极管测试方法”介绍
半导体发光二极管(LED)测试方法是评估这种器件性能的关键步骤,确保其在各个领域中发挥最佳的光效性能。在进行LED的测试过程中,主要侧重于对其光电特性和可靠性进行综合评价。测试通常包括对光输出、光谱特性、正向电压和反向电压、以及热稳定性等方面的分析。
在检测光输出时,通过积分球系统可以精准测量LED在不同电流下的光通量和光强分布,以确认其亮度是否符合要求。同时,为了了解LED的色度表现,会使用光谱辐射计或色度计来确定其色彩坐标和色温,这对于保持颜色一致性至关重要。而正向和反向电压的测量则涉及到了使用精确的电压表来判定LED的电气特性,这关系到能效和驱动电路的设计。热稳定性测试是通过温度循环和持续工作条件下的性能跟踪来实施,目的是模拟实际使用环境,并检验LED的耐久性及寿命预期。
整个测试流程旨在全面了解半导体发光二极管的工作状态与品质,保障产品能在实际应用中达到预期的光效与可靠性标准。通过这些综合性测试方法的应用,能够有效推动半导体照明技术的持续发展和创新。
