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GB/T 17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》基本信息
标准号：GB/T 17574-1998
中文名称：《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》
发布日期：1998-01-01
实施日期：1999-06-01
发布部门：国家质量技术监督局
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位：电子工业部标准化研究所
中国标准分类号：L55微电路综合
国际标准分类号：31.200集成电路、微电子学
GB/T 17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》介绍
GB/T 17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》是由国家质量技术监督局发布的一项重要国家标准，自1999年6月1日起正式实施。
一、标准概述
GB/T 17574-1998标准是针对半导体器件集成电路的第二部分，主要规定了数字集成电路的相关技术要求和测试方法。
二、适用范围
该标准适用于各类数字集成电路产品，包括但不限于微处理器、存储器、逻辑电路等。无论是国内生产还是进口的数字集成电路，都应遵循该标准的相关规定。
三、技术要求
1、性能指标
标准规定了数字集成电路的性能指标，包括输入/输出电压、功耗、工作频率等。这些指标直接影响集成电路的性能和可靠性，是评价产品质量的重要依据。
2、环境适应性
标准对集成电路的环境适应性提出了要求，包括温度、湿度、振动、冲击等。这些要求确保了集成电路在各种环境下都能正常工作，提高了产品的稳定性和可靠性。
3、抗干扰能力
标准还规定了数字集成电路的抗干扰能力，包括电磁兼容性、射频干扰等。这些要求有助于减少集成电路在实际应用中的干扰问题，提高了产品的稳定性和安全性。
四、测试方法
1、性能测试
标准规定了数字集成电路的性能测试方法，包括输入/输出电压测试、功耗测试、工作频率测试等。这些测试方法有助于准确评估集成电路的性能指标，为产品质量评价提供依据。
2、环境适应性测试
标准对环境适应性测试提出了要求，包括高温、低温、湿热、振动、冲击等测试。这些测试方法有助于评估集成电路在不同环境下的适应能力，确保产品的稳定性和可靠性。
3、抗干扰测试
标准还规定了数字集成电路的抗干扰测试方法，包括电磁兼容性测试、射频干扰测试等。这些测试方法有助于评估集成电路的抗干扰能力，为产品的稳定性和安全性提供保障。
五、重要意义
GB/T 17574-1998标准的制定和实施，对于规范数字集成电路市场、提高产品质量、保障消费者权益具有重要意义。通过遵循该标准，集成电路生产企业可以提高产品质量，增强市场竞争力；政府部门可以加强产品质量监管，保障消费者权益；消费者可以更加放心地选择和使用数字集成电路产品。
GB/T 17574-1998《半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路》是一项全面、系统的标准，涵盖了数字集成电路的技术要求、测试方法等多个方面。该标准的实施，对于推动我国集成电路产业的健康发展，提高产品竞争力，保障消费者权益具有重要作用。
