标准详情
SJ 20069-1992《半导体分立器件 ２ＣＫ７６型硅开关二极管详细规范》基本信息
标准号：SJ 20069-1992
中文名称：《半导体分立器件 ２ＣＫ７６型硅开关二极管详细规范》
发布日期：1992-11-19
实施日期：1993-05-01
发布部门：中国电子工业总公司
提出单位：中国电子工业总公司科技质量局
归口单位：中国电子技术标准化研究所
起草单位：中国电子技术标准化研究所无锡无线电件四厂和济南半导体四厂
起草人：于志贤、翁寿松、李文盛
中国标准分类号：B01技术管理
SJ 20069-1992《半导体分立器件 ２ＣＫ７６型硅开关二极管详细规范》介绍
中国电子工业总公司于1992年11月19日发布了SJ 20069-1992《半导体分立器件 ２ＣＫ７６型硅开关二极管详细规范》（以下简称“本标准”），并于1993年5月1日起正式实施。
一、标准概述
本标准主要规定了2CK76型硅开关二极管的分类、命名、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和储存等方面的要求。
二、分类与命名
1、分类
本标准将2CK76型硅开关二极管按照其封装形式和引线形式进行分类，以便于用户根据实际需求进行选择。
2、命名
2CK76型硅开关二极管的命名遵循一定的规则，包括型号、封装形式、引线形式等信息，以便于用户识别和查询。
三、技术要求
1、外观质量
本标准对2CK76型硅开关二极管的外观质量提出了明确的要求，包括无裂纹、无缺损、无变形等，以确保其在使用过程中的稳定性。
2、电性能参数
本标准详细规定了2CK76型硅开关二极管的电性能参数，如正向电压、反向电压、电流容量等，以满足不同应用场景的需求。
3、可靠性要求
为了保证2CK76型硅开关二极管的长期稳定性和可靠性，本标准对其可靠性提出了严格的要求，包括高温寿命试验、温度循环试验等。
四、试验方法
1、外观检查
本标准规定了2CK76型硅开关二极管外观检查的方法和要求，以确保其外观质量符合标准要求。
2、电性能测试
本标准详细规定了2CK76型硅开关二极管电性能测试的方法和步骤，包括正向电压测试、反向电压测试、电流容量测试等。
3、可靠性试验
本标准对2CK76型硅开关二极管的可靠性试验提出了明确要求，包括高温寿命试验、温度循环试验等，以评估其在实际应用中的可靠性。
五、检验规则
1、检验分类
本标准将2CK76型硅开关二极管的检验分为出厂检验和型式检验，以确保其在生产和使用过程中的质量。
2、抽样规则
本标准规定了2CK76型硅开关二极管的抽样规则，以确保检验结果的代表性和准确性。
3、判定规则
本标准明确了2CK76型硅开关二极管的判定规则，包括合格品和不合格品的判定标准，以便于用户进行质量控制。
六、标志、包装、运输和储存
1、标志
本标准规定了2CK76型硅开关二极管的标志要求，包括型号、生产日期、生产厂家等信息，以便于用户识别和追溯。
2、包装
本标准对2CK76型硅开关二极管的包装提出了明确的要求，以确保其在运输和储存过程中的安全性。
3、运输
本标准规定了2CK76型硅开关二极管的运输要求，以防止在运输过程中的损坏。
4、储存
本标准对2CK76型硅开关二极管的储存环境和条件提出了要求，以确保其长期稳定性和可靠性。
SJ 20069-1992《半导体分立器件 ２ＣＫ７６型硅开关二极管详细规范》的发布和实施，为2CK76型硅开关二极管的生产和应用提供了明确的规范和指导。通过遵循本标准的要求，可以确保2CK76型硅开关二极管的性能和质量，满足电子设备的需求，提高整个电子系统的稳定性和可靠性。
