标准详情
“钼的发射光谱分析方法”的标准号是：YS/T 558-2009
YS/T 558-2009《钼的发射光谱分析方法》由中华人民共和国工业和信息化部于2009-12-04发布，并于2010-06-01实施。
该标准的起草单位为自贡硬质合金有限责任公司；起草人是谭泰章、王培、魏利。
“钼的发射光谱分析方法”介绍
钼的发射光谱分析方法是一种利用物质在热能或电能激发下产生的光谱特性来定性和定量分析钼元素含量的技术。在进行这种分析之前，样品通常需要经过适当的预处理，如溶解或粉碎，以确保钼能够有效地被引入到光谱仪中。一旦样品准备好，它会被放置在激发源中，例如电弧、火花或感应耦合等离子体（icp）等。
当钼原子受到激发后，其外层电子会跃迁到较高能级，当这些电子回落到较低能级时，便会发射特定波长的光。通过测量这些特定波长的光强度，可以对钼的含量进行定量分析。为此，科学家使用专门的光谱仪记录下发射光谱图，然后通过比较标准样品和未知样品的光谱图来确定未知样品中的钼浓度。
这种方法的优势在于它非常灵敏和精确，适用于多种不同的样品类型，包括固体、液体甚至气体样品。它能够同时检测出多个元素，这使得它在质量控制、环境监测、材料科学以及地质勘探等领域得到了广泛的应用。不过，发射光谱分析方法也要求操作者具备一定的专业知识，并且仪器的维护成本可能相对较高。
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