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SJ 50597/53-2000《半导体集成电路JB3081、JB3082型晶体管阵列详细规范》

SJ 50597/53-2000更新时间: 2025-01-18

标准详情

SJ 50597/53-2000《半导体集成电路JB3081、JB3082型晶体管阵列详细规范》基本信息

标准号:SJ 50597/53-2000

中文名称:《半导体集成电路JB3081、JB3082型晶体管阵列详细规范》

发布日期:2000-10-20    

实施日期:2000-10-20

发布部门:中华人民共和国信息产业部    

提出单位:中华人民共和国信息产业部    

归口单位:中国电子技术标准化研究所    

中国标准分类号:L5962

SJ 50597/53-2000《半导体集成电路JB3081、JB3082型晶体管阵列详细规范》介绍

《半导体集成电路JB3081、JB3082型晶体管阵列详细规范》(以下简称“本标准”)是由中华人民共和国信息产业部正式发布,并于2000年10月20日起正式实施的一项国家级标准。

一、标准适用范围

本标准适用于半导体集成电路的JB3081、JB3082型晶体管阵列的设计、生产、检验和验收等各个环节。对于使用这两种型号晶体管阵列的电子产品制造商、半导体器件生产厂商以及相关科研机构,本标准提供了统一的技术规范和质量控制标准。

二、技术要求

1、电性能要求:包括晶体管阵列的电流增益、输入电阻、输出电阻、饱和电压等关键电性能参数。

2、温度特性:规定了晶体管阵列在不同温度条件下的性能变化范围。

3、可靠性要求:对晶体管阵列的长期稳定性、抗静电能力等可靠性指标进行了明确要求。

4、机械特性:涉及晶体管阵列的尺寸、形状、引脚布局等机械设计要求。

三、测试方法

1、电性能测试:如何测量晶体管阵列的电流增益、输入电阻等电性能参数。

2、温度特性测试:在不同温度条件下测试晶体管阵列的性能变化。

3、可靠性测试:通过老化测试、抗静电测试等方法评估晶体管阵列的可靠性。

4、机械特性测试:检查晶体管阵列的尺寸精度、引脚布局等机械特性。

四、质量评定

1、合格判定:明确了晶体管阵列在满足哪些条件下可以被判定为合格产品。

2、不合格处理:对于不合格的晶体管阵列,规定了相应的处理方法和流程。

3、质量记录:要求生产厂商对晶体管阵列的生产、测试过程进行详细记录,以便于质量追溯。

五、标准的意义与影响

本标准的发布和实施,对于规范半导体集成电路行业、提高产品质量、保障电子产品的可靠性具有重要意义。它不仅为生产厂商提供了明确的技术指导,也为电子产品制造商和消费者带来了更加可靠的产品选择。

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