GB/T 12750-2006《半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》

GB/T 12750-2006《半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》基本信息

标准号：GB/T 12750-2006

中文名称：《半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》

发布日期：2006-08-23    

实施日期：2007-02-01

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会    

提出单位：信息产业部    

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会    

起草单位：中国电子技术标准化研究所

起草人：王琪    

中国标准分类号：L56半导体集成电路

国际标准分类号：31.200集成电路、微电子学

GB/T 12750-2006《半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》介绍

《GB/T 12750-2006《半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范(不包括混合电路)》》是由中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局和中国国家标准化管理委员会联合发布的一项国家标准，《GB/T 12750-2006》标准于2006年8月23日发布，并于2007年2月1日正式实施。

一、标准概述

该标准是半导体器件集成电路领域的第11部分，专注于半导体集成电路的分规范，特别指出不包括混合电路。这一标准涵盖了半导体集成电路的分类、要求、测试方法、质量控制等方面，为半导体集成电路的生产和应用提供了统一的技术规范。

二、标准内容解读

1、分类

标准首先对半导体集成电路进行了分类，包括数字集成电路、模拟集成电路、混合信号集成电路等。这种分类有助于明确不同类型集成电路的特点和应用领域，为后续的技术要求和测试方法提供了基础。

2、技术要求

技术要求部分详细规定了半导体集成电路的性能指标、可靠性、环境适应性等关键参数。这些要求确保了集成电路在设计和制造过程中能够满足特定的性能标准，以保证其在各种应用中的稳定性和可靠性。

3、测试方法

测试方法是标准中的核心内容之一，它规定了如何对半导体集成电路进行性能测试、可靠性测试和环境适应性测试。这些测试方法为集成电路的质量控制提供了科学依据，确保产品在出厂前能够达到预定的技术要求。

4、质量控制

质量控制部分强调了在集成电路生产过程中对质量的严格把控。包括原材料的选择、生产过程的监控、成品的检验等环节，都需遵循标准规定，以确保最终产品的质量。

三、标准的意义

《GB/T 12750-2006》标准的制定和实施，对于推动我国半导体集成电路产业的健康发展具有重要意义。它不仅为集成电路的生产提供了技术指导，还有助于提高产品的国际竞争力，促进国际贸易和技术交流。

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