SJ 20642/2-1998《半导体光电模块GD82型DIN—FET光接收模块详细总规范》

SJ 20642/2-1998《半导体光电模块GD82型DIN—FET光接收模块详细总规范》基本信息

标准号：SJ 20642/2-1998

中文名称：《半导体光电模块GD82型DIN—FET光接收模块详细总规范》

发布日期：1998-03-11    

实施日期：1998-05-01

发布部门：中华人民共和国电子工业部    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：电子工业部第十三研究所

起草人：顾振球、常利民、朱晓东、魏爱新    

中国标准分类号：L5980

SJ 20642/2-1998《半导体光电模块GD82型DIN—FET光接收模块详细总规范》介绍

《半导体光电模块GD82型DIN—FET光接收模块详细总规范》（SJ 20642/2-1998）由中华人民共和国电子工业部于1998年3月11日发布，并自1998年5月1日起实施的一项重要标准。

一、标准概述

SJ 20642/2-1998标准是专门针对GD82型DIN-FET光接收模块的详细总规范。该标准涵盖了从设计到制造，再到测试和质量控制的全过程，确保了光接收模块的一致性和可靠性。标准的主要内容包括：

1、技术要求：规定了光接收模块的性能指标，如灵敏度、带宽、输出电压等。

2、测试方法：详细描述了如何测试模块的各项性能指标。

3、质量控制：设定了生产过程中的质量控制标准和检验流程。

4、包装、标识和存储：规定了模块的包装方式、标识要求以及存储条件。

二、技术要求

1、性能指标

标准对GD82型DIN-FET光接收模块的性能指标进行了严格的规定。这些指标包括但不限于：

灵敏度：模块在特定条件下能够检测到的最小光信号强度。

带宽：模块能够处理的信号频率范围。

输出电压：模块输出的电压水平，通常与输入光信号的强度成比例。

2、设计参数

除了性能指标，标准还规定了模块的设计参数，如尺寸、重量、功耗等，以确保模块的兼容性和适用性。

三、测试方法

1、性能测试

标准详细描述了如何进行性能测试，包括测试环境、测试设备和测试步骤。这些测试确保模块在规定的性能指标内正常工作。

2、耐久性测试

为了评估模块的长期稳定性，标准还规定了耐久性测试，如高温、低温、湿度和振动测试。

四、质量控制

1、生产过程控制

标准规定了生产过程中的质量控制要求，包括原材料的选择、生产环境的控制和生产设备的校准。

2、检验流程

为了确保每个模块都符合标准要求，规定了详细的检验流程，包括出厂前的检验和定期的质量抽查。

五、包装、标识和存储

1、包装要求

标准对模块的包装提出了具体要求，以保护模块在运输和存储过程中不受损害。

2、标识规定

每个模块都必须有清晰的标识，包括型号、生产日期、批号等，以便于追溯和识别。

3、存储条件

为了保持模块的性能，标准还规定了存储条件，如温度、湿度和光照等。

SJ 20642/2-1998《半导体光电模块GD82型DIN—FET光接收模块详细总规范》是一项全面而细致的标准，它不仅规定了模块的性能指标和技术要求，还涵盖了测试方法、质量控制以及包装、标识和存储等方面的要求。通过遵循这一标准，可以确保GD82型DIN-FET光接收模块的质量和可靠性，满足现代通信技术的需求。

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