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SJ 50033/9-1994《半导体分立器件 3DK206型功率开关晶体管详细规范》

SJ 50033/9-1994更新时间: 2025-03-24

标准详情

SJ 50033/9-1994《半导体分立器件  3DK206型功率开关晶体管详细规范》基本信息

标准号:SJ 50033/9-1994

中文名称:《半导体分立器件  3DK206型功率开关晶体管详细规范》

发布日期:1994-09-30    

实施日期:1994-12-01

发布部门:中华人民共和国电子工业部    

归口单位:中国电子标准化研究所    

起草单位:衡阳市晶体管厂

起草人:夏贤学、欧阳映和    

中国标准分类号:L01技术管理

SJ 50033/9-1994《半导体分立器件  3DK206型功率开关晶体管详细规范》介绍

《半导体分立器件 3DK206型功率开关晶体管详细规范》(SJ 50033/9-1994)是由中华人民共和国电子工业部发布的一项重要标准,该标准发布于1994年9月30日,并自1994年12月1日起正式实施。

一、标准概述

《半导体分立器件 3DK206型功率开关晶体管详细规范》(SJ 50033/9-1994)标准详细规定了3DK206型功率开关晶体管的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等方面的内容,为该型号晶体管的生产和使用提供了明确的指导和依据。

二、技术要求

1、性能参数

标准中对3DK206型功率开关晶体管的性能参数进行了严格规定,包括但不限于最大集电极电流(Ic)、最大集电极-发射极电压(Vce)、最大耗散功率(Pd)等关键参数。这些参数的设定确保了晶体管在不同工作条件下的稳定性和可靠性。

2、外观和尺寸

对于晶体管的外观和尺寸,标准也提出了具体要求,包括晶体管的封装形式、引脚长度、标记等,以保证产品的一致性和互换性。

三、试验方法

标准详细描述了对3DK206型功率开关晶体管进行性能测试的方法和步骤,包括电参数测试、温度特性测试、耐久性测试等。这些测试方法的标准化,有助于确保产品在出厂前能够满足规定的性能要求。

四、检验规则

1、抽样检验

标准规定了对3DK206型功率开关晶体管进行抽样检验的规则,包括抽样比例、检验项目和判定标准等,以确保批量产品的质量控制。

2、型式试验

对于新产品或产品变更后,需要进行型式试验,以验证产品是否符合标准要求。型式试验包括所有性能参数的测试,是产品进入市场前的重要质量保证。

五、标志、包装、运输和贮存

标准还对3DK206型功率开关晶体管的标志、包装、运输和贮存提出了具体要求。这些要求有助于保护产品在流通过程中不受损害,并确保产品在到达用户手中时仍保持良好的性能状态。

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