SJ 50033/141-1999《半导体光电子器件2EK150型砷化镓高速开关二极管详细规范》

SJ 50033/141-1999《半导体光电子器件2EK150型砷化镓高速开关二极管详细规范》基本信息

标准号：SJ 50033/141-1999

中文名称：《半导体光电子器件2EK150型砷化镓高速开关二极管详细规范》

发布日期：1999-11-10    

实施日期：1999-12-01

发布部门：中华人民共和国信息产业部    

提出单位：中华人民共和国信息产业部    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：长春市半导体厂

起草人：陈兰、朱云来    

中国标准分类号：L5961

SJ 50033/141-1999《半导体光电子器件2EK150型砷化镓高速开关二极管详细规范》介绍

SJ 50033/141-1999《半导体光电子器件2EK150型砷化镓高速开关二极管详细规范》是我国信息产业部于1999年11月10日发布的一项国家标准。

一、标准制定背景

随着信息技术的快速发展，半导体光电子器件在通信、计算机、医疗等领域的应用越来越广泛。砷化镓高速开关二极管作为一种重要的半导体器件，其性能直接影响到整个系统的性能。为了提高产品质量，促进产业发展，我国信息产业部制定了SJ 50033/141-1999《半导体光电子器件2EK150型砷化镓高速开关二极管详细规范》。

二、标准适用范围

SJ 50033/141-1999标准主要适用于2EK150型砷化镓高速开关二极管的设计、生产和测试。该二极管广泛应用于高速数字电路、微波电路、光通信等领域，具有快速开关、低功耗、高可靠性等特点。

三、技术要求

1、外观检查：二极管的外观应无裂纹、变形、污染等缺陷，标志清晰、完整。

2、电性能测试：包括正向电流、反向电流、正向电压、反向电压、正向动态电阻等指标的测试。

3、温度特性测试：测试二极管在不同温度下的性能变化，以评估其稳定性。

4、可靠性测试：包括高温存储、高温工作、温度循环等项目的测试，以评估二极管的可靠性。

5、机械性能测试：包括引线强度、封装强度等项目的测试，以评估二极管的机械性能。

四、检验规则

1、检验分类：分为出厂检验和型式检验两种。

2、抽样方案：根据二极管的批量，采用不同的抽样方案进行检验。

3、判定规则：根据检验结果，判定二极管是否符合标准要求。

4、不合格品处理：对不合格品进行返工、报废或降级处理。

五、标志、包装、运输和储存

1、标志：二极管上应有型号、规格、生产日期等标志。

2、包装：二极管应采用适当的包装方式，以防止运输过程中的损坏。

3、运输：二极管在运输过程中应避免剧烈振动、碰撞等影响。

4、储存：二极管应储存在干燥、阴凉、无腐蚀性气体的环境中。

六、标准的意义

SJ 50033/141-1999标准的实施，有利于提高我国砷化镓高速开关二极管的产品质量，促进半导体光电子器件产业的发展。通过规范设计、生产和测试过程，保障二极管的性能和可靠性，满足高速数字电路、微波电路、光通信等领域的需求。

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