首页 > 检测标准 > 正文

JB/T 8271-2015《静电复印光导体表面缺陷比对版》

JB/T 8271-2015更新时间: 2025-04-08

标准详情

JB/T 8271-2015《静电复印光导体表面缺陷比对版》基本信息

标准号:JB/T 8271-2015

中文名称:《静电复印光导体表面缺陷比对版》

发布日期:2015-04-30    

实施日期:2015-10-01

发布部门:中华人民共和国工业和信息化部    

提出单位:中国机械工业联合会    

归口单位:全国复印机械标准化技术委员会(SAC/TC 147)    

起草单位:天津复印技术研究所、珠海天威飞马打印耗材有限公司、夏普办公设备(常熟)有限公司等

起草人:马燕、张希平、王强、鲁俊和、周学良、范志国、陈挺、仇相如、刘生应、麦洪琦、李妍    

中国标准分类号:N47缩微复印机械

国际标准分类号:37.100.01印制技术综合

JB/T 8271-2015《静电复印光导体表面缺陷比对版》介绍

《静电复印光导体表面缺陷比对版》标准由中华人民共和国工业和信息化部发布,于2015年4月30日发布,并于同年10月1日正式实施。

一、标准主要内容

1、适用范围

JB/T 8271-2015标准适用于所有类型的静电复印光导体,包括但不限于有机光导体和无机光导体。它为制造商、供应商以及质量检测机构提供了一个共同的评估框架。

2、术语和定义

标准明确了与静电复印光导体表面缺陷相关的术语和定义,如“表面缺陷”、“比对版”等,确保了行业内术语的统一性和准确性。

3、技术要求

标准规定了光导体表面缺陷的分类、检测方法、检测条件以及缺陷的判定标准。这些技术要求为检测人员提供了明确的操作指南。

4、检测方法

JB/T 8271-2015详细描述了光导体表面缺陷的检测方法,包括视觉检测和仪器检测。视觉检测依赖于检测人员的经验,而仪器检测则使用特定的设备来量化缺陷。

5、缺陷比对版

标准提供了一套标准化的比对版,这些比对版包含了各种类型的表面缺陷样本,用于帮助检测人员识别和评估光导体表面的缺陷。

6、质量等级

标准定义了光导体表面缺陷的质量等级,以便用户可以根据缺陷的严重程度对光导体进行分类。

二、实施意义

1、提升产品质量

通过实施JB/T 8271-2015标准,可以确保静电复印光导体的表面缺陷得到准确评估,从而提升最终产品的质量。

2、统一检测标准

该标准的实施有助于统一行业内的检测标准,减少因检测方法不一致而导致的质量评估误差。

3、促进行业发展

标准化的检测流程有助于提高行业的整体效率,促进静电复印技术的健康发展。

《静电复印光导体表面缺陷比对版》(JB/T 8271-2015)标准的发布和实施,为静电复印光导体的表面缺陷检测提供了科学、统一的参考标准。

阅读剩余 50%
检测报告查询
企来检LOGO

关注公众号快速查报告

企来检公众号 ico图标 微信公众号: 企来检
企来检LOGO

提交检测委托,一键获取报价

联系方式
样品名称
企业名称
立即提交
  我已阅读并同意 《用户协议》 《隐私协议》
企来检LOGO

信息已保存,请完成手机号验证

等待验证
获取验证码
立即校验
  完成信息验证后,立刻为您分配检测工程师