SJ 20175-1992《半导体分立器件 ３ＤＧ９１８型ＮＰＮ硅超高频小功率晶体管详细规范》

SJ 20175-1992《半导体分立器件  ３ＤＧ９１８型ＮＰＮ硅超高频小功率晶体管详细规范》基本信息

标准号：SJ 20175-1992

中文名称：《半导体分立器件  ３ＤＧ９１８型ＮＰＮ硅超高频小功率晶体管详细规范》

发布日期：1992-11-19    

实施日期：1993-05-01

发布部门：中国电子工业总公司    

提出单位：中国电子工业总公司科技质量局    

归口单位：中国电子技术标准化研究所    

起草单位：中国电子技术标准化研究所和国营九七零厂

起草人：王长福、长宗国、任继利、谢佩兰    

中国标准分类号：D01技术管理

SJ 20175-1992《半导体分立器件  ３ＤＧ９１８型ＮＰＮ硅超高频小功率晶体管详细规范》介绍

SJ 20175-1992《半导体分立器件 3DG918型NPN硅超高频小功率晶体管详细规范》由中国电子工业总公司发布，自1993年5月1日起正式实施。

一、标准概述

本标准旨在规定3DG918型NPN硅超高频小功率晶体管的技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输及储存等方面的详细要求，以确保产品的性能和质量。

二、技术要求

1、外观质量

晶体管的外观应清洁、无裂纹、无变形，引脚无弯曲、无断裂，表面不应有影响性能的缺陷。

2、电性能参数

晶体管的电性能参数包括直流电流增益、最大集电极电流、集电极-发射极击穿电压等，具体数值在标准中有明确规定。

3、频率特性

晶体管的频率特性应满足超高频应用的需求，包括截止频率、功率增益等参数。

4、温度特性

晶体管在规定的温度范围内应具有良好的温度稳定性，包括温度系数、热阻等参数。

三、测试方法

本标准对晶体管的测试方法进行了详细规定，包括外观检查、电性能测试、频率特性测试、温度特性测试等。测试应在规定的环境条件下进行，以确保测试结果的准确性。

四、检验规则

1、型式检验

型式检验是对晶体管进行的全面性能测试，以验证产品是否符合本标准的要求。

2、例行检验

例行检验是对晶体管进行的常规性能测试，以确保产品在生产过程中的一致性和稳定性。

3、抽样规则

抽样规则规定了抽样数量、抽样方法等，以确保检验结果的代表性和可靠性。

五、标志、包装、运输及储存

1、标志

晶体管应有清晰的型号、规格、生产批号等标志，以便于识别和追溯。

2、包装

晶体管的包装应符合规定的要求，以保护产品在运输和储存过程中不受损坏。

3、运输

晶体管在运输过程中应避免受到剧烈震动、高温、潮湿等不利因素的影响。

4、储存

晶体管应储存在干燥、通风、无腐蚀性气体的环境中，以保持其性能和质量。

SJ 20175-1992《半导体分立器件 3DG918型NPN硅超高频小功率晶体管详细规范》的发布和实施，为3DG918型晶体管的生产、检验和应用提供了明确的技术依据，有助于提高产品的质量和可靠性，促进半导体分立器件行业的发展。

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