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SJ 20015-1992《半导体分立器件 GP、GT和GCT级3DG130型NPN硅高频小功率晶体管详细规范》

SJ 20015-1992更新时间: 2025-04-18

标准详情

SJ 20015-1992《半导体分立器件  GP、GT和GCT级3DG130型NPN硅高频小功率晶体管详细规范》基本信息

标准号:SJ 20015-1992

中文名称:《半导体分立器件  GP、GT和GCT级3DG130型NPN硅高频小功率晶体管详细规范》

发布日期:1992-02-01    

实施日期:1992-05-01

发布部门:中国电子工业总公司    

提出单位:中国电子工业总公司科技质量局    

归口单位:中国电子技术标准化研究所    

起草单位:中国电子技术标准化研究所和石家庄无线电二厂

起草人:王长福、谢佩兰、王承琳    

中国标准分类号:A01技术管理

SJ 20015-1992《半导体分立器件  GP、GT和GCT级3DG130型NPN硅高频小功率晶体管详细规范》介绍

SJ 20015-1992《半导体分立器件 GP、GT和GCT级3DG130型NPN硅高频小功率晶体管详细规范》是由中国电子工业总公司于1992年2月1日发布,并于1992年5月1日起实施的一项行业标准。

一、技术要求

标准对3DG130型NPN硅高频小功率晶体管的技术要求进行了详细规定。标准规定了晶体管的型号命名规则,包括型号、极性、封装形式等。标准对晶体管的主要性能参数进行了规定,包括击穿电压、电流增益、频率特性、最大功耗等。标准还对晶体管的外观质量、尺寸和重量等进行了规定。

二、测试方法

标准对3DG130型NPN硅高频小功率晶体管的测试方法进行了详细规定。测试方法包括电性能测试、机械性能测试和环境适应性测试等。电性能测试主要包括击穿电压测试、电流增益测试、频率特性测试等。机械性能测试主要包括尺寸和重量测试。环境适应性测试主要包括温度、湿度、振动等环境因素对晶体管性能的影响测试。

三、检验规则

标准对3DG130型NPN硅高频小功率晶体管的检验规则进行了详细规定。检验规则包括检验分类、抽样方法、检验项目和判定规则等。检验分类包括出厂检验和型式检验。抽样方法包括随机抽样和周期抽样。检验项目包括电性能、机械性能、外观质量和环境适应性等。判定规则包括合格判定和不合格判定。

四、标志、包装、运输和贮存

标准对3DG130型NPN硅高频小功率晶体管的标志、包装、运输和贮存进行了详细规定。标志应包括型号、生产企业名称、生产日期等信息。包装应满足保护晶体管、方便运输和使用的要求。运输过程中应避免剧烈振动和冲击。贮存环境应干燥、通风、无腐蚀性气体,且温度和湿度应符合标准规定。

SJ 20015-1992《半导体分立器件 GP、GT和GCT级3DG130型NPN硅高频小功率晶体管详细规范》是一项全面、详细的行业标准,对3DG130型NPN硅高频小功率晶体管的生产、检验和验收提供了明确的技术依据和规范要求。

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