SJ/T 2658.5-2015《半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻》

SJ/T 2658.5-2015《半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻》基本信息

标准号：SJ/T 2658.5-2015

中文名称：《半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻》

发布日期：2015-10-10    

实施日期：2016-04-01

发布部门：中华人民共和国工业和信息化部    

SJ/T 2658.5-2015《半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻》介绍

SJ/T 2658.5-2015是由中华人民共和国工业和信息化部于2015年10月10日发布的一项国家标准，该标准规定了半导体红外发射二极管串联电阻的测量方法。它自2016年4月1日起正式实施，为相关企业和检测机构提供了统一的测试标准。

一、标准的目的和意义

1、规范测量方法

该标准的主要目的是规范半导体红外发射二极管串联电阻的测量方法，确保不同实验室和制造商之间能够得到一致的测试结果。

2、提高产品质量

通过标准化的测试方法，可以更准确地评估和控制产品的质量，从而提高产品的可靠性和性能。

3、促进行业发展

统一的测试标准有助于降低行业内部的技术壁垒，促进技术的交流和产品的流通，推动整个行业的发展。

二、标准内容详解

1、适用范围

SJ/T 2658.5-2015适用于所有半导体红外发射二极管串联电阻的测量。

2、术语和定义

标准中定义了与串联电阻测量相关的术语，如“串联电阻”、“测试电流”、“测试电压”等，为测量提供了明确的定义。

3、测量原理

标准详细描述了串联电阻的测量原理，包括测量电路的搭建、电流和电压的施加以及测量结果的计算方法。

4、测量设备

标准规定了进行测量所需的设备，包括电流源、电压表、电阻测试仪等，并对其精度和性能提出了要求。

5、测量步骤

标准详细列出了串联电阻测量的具体步骤，包括设备的准备、测量条件的设定、数据的采集和记录等。

6、数据处理

标准提出了数据处理的方法，包括数据的有效性判断、异常数据的处理以及最终结果的计算。

7、测量不确定度

标准还考虑了测量过程中的不确定度，并提供了评估和控制不确定度的方法。

三、标准的应用

1、产品质量控制

制造商可以利用这一标准来控制产品的质量和一致性，确保产品满足客户和市场的需求。

2、技术研究与开发

研究人员可以依据这一标准进行新的技术研究和产品开发，提高产品的技术水平。

3、国际贸易

国际贸易中，统一的测试标准有助于消除技术壁垒，促进产品的国际贸易。

SJ/T 2658.5-2015《半导体红外发射二极管测量方法 第5部分：串联电阻》的发布和实施，对于规范半导体红外发射二极管的串联电阻测量方法、提高产品质量、促进技术交流和行业发展具有重要的意义。通过遵循这一标准，相关企业和检测机构能够确保其产品的性能和可靠性，满足市场和消费者的需求。

四、未来展望

随着技术的不断进步和市场需求的变化，未来的标准可能会进一步更新和完善。也希望更多的企业和研究机构能够参与到标准的制定和修订中来，共同推动半导体红外发射二极管技术的发展和应用。

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