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SJ 50033/151-2002《半导体分立器件 2DW14-18型低噪声硅电压基准二极管详细规范》

SJ 50033/151-2002更新时间: 2024-12-08

标准详情

SJ 50033/151-2002《半导体分立器件 2DW14-18型低噪声硅电压基准二极管详细规范》基本信息

标准号:SJ 50033/151-2002

中文名称:《半导体分立器件 2DW14-18型低噪声硅电压基准二极管详细规范》

发布日期:2002-10-30    

实施日期:2003-03-01

发布部门:中华人民共和国信息产业部    

提出单位:中华人民共和国信息产业部    

归口单位:信息产业部电子第四研究所    

起草单位:国营第八七三厂

起草人:邹盛林、万宁    

中国标准分类号:L41半导体二极管

SJ 50033/151-2002《半导体分立器件 2DW14-18型低噪声硅电压基准二极管详细规范》介绍

2002年,由中华人民共和国信息产业部发布的SJ 50033/151-2002标准,为2DW14-18型低噪声硅电压基准二极管的生产和应用提供了详细的规范。

一、标准概述

2002年,由中华人民共和国信息产业部发布的SJ 50033/151-2002《半导体分立器件 2DW14-18型低噪声硅电压基准二极管详细规范》是一部专为半导体分立器件中的低噪声硅电压基准二极管设计的标准。该标准自2003年3月1日起正式实施。

二、技术要求

1、产品分类

标准规定了2DW14-18型低噪声硅电压基准二极管的产品分类,包括不同型号的二极管,以满足不同应用场景的需求。

2、额定值

标准对二极管的额定值进行了明确,包括额定电流、额定反向电压等,确保产品在正常工作条件下的性能。

3、性能特性

标准规定了二极管的性能特性,如温度系数、噪声电压等,以确保产品在不同工作条件下的稳定性和可靠性。

4、外观质量

标准对二极管的外观质量提出了要求,包括无裂纹、无明显变形等,以保证产品的美观和耐用性。

5、试验方法

标准详细规定了对2DW14-18型低噪声硅电压基准二极管进行测试的方法,包括温度特性测试、噪声电压测试等,以确保产品在生产过程中的质量控制。

6、检验规则

标准对产品的检验规则进行了规定,包括抽样方法、检验项目和合格判定等,以确保产品在出厂前的质量把关。

7、标志、包装、运输和储存

标志:标准规定了产品的标志要求,包括产品型号、生产日期等信息,以便于产品的识别和追溯。

包装:标准对产品的包装提出了要求,包括包装材料、包装方式等,以保护产品在运输过程中的安全。

运输:标准规定了产品在运输过程中的注意事项,以确保产品在运输过程中的完好无损。

储存:标准对产品的储存条件提出了要求,包括储存环境、储存期限等,以保证产品在储存过程中的性能稳定。

SJ 50033/151-2002《半导体分立器件 2DW14-18型低噪声硅电压基准二极管详细规范》作为一部专门针对低噪声硅电压基准二极管的标准,为产品的生产、应用和质量控制提供了详细的指导。通过遵循这一标准,可以确保2DW14-18型低噪声硅电压基准二极管的性能稳定、可靠,满足不同应用场景的需求。

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