GB/T 15972.21-2008《光纤试验方法规范 第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序 涂覆层几何参数》

GB/T 15972.21-2008《光纤试验方法规范  第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序  涂覆层几何参数》基本信息

标准号：GB/T 15972.21-2008

中文名称：《光纤试验方法规范  第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序  涂覆层几何参数》

发布日期：2008-03-31    

实施日期：2008-11-01

发布部门：中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会    

提出单位：中华人民共和国信息产业部    

归口单位：信息产业部（通信）    

起草单位：武汉邮电科学研究院

起草人：陈永诗、程淑玲、刘泽恒、吴金良    

中国标准分类号：M33光通信设备

国际标准分类号：33.180.10光纤和光缆

GB/T 15972.21-2008《光纤试验方法规范  第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序  涂覆层几何参数》介绍

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局和中国国家标准化管理委员会联合发布了《光纤试验方法规范 第21部分：尺寸参数的测量方法和试验程序 涂覆层几何参数》（GB/T 15972.21-2008）。

一、标准概述

GB/T 15972.21-2008标准主要规定了光纤涂覆层几何参数的测量方法和试验程序，包括光纤直径、涂覆层厚度等关键尺寸参数的测量。这些参数对于光纤的性能和可靠性具有重要影响，是光纤产品质量控制的重要依据。

二、适用范围

本标准适用于所有类型的光纤产品，包括单模光纤、多模光纤等。通过统一的测量方法和试验程序，可以确保不同类型光纤产品的尺寸参数测量结果具有可比性和一致性，为光纤产品的生产、检测和使用提供科学依据。

三、主要内容

1、术语和定义：标准首先对光纤涂覆层几何参数相关的术语和定义进行了明确，为后续的测量和试验提供了基础。

2、测量方法：标准详细规定了光纤直径和涂覆层厚度的测量方法，包括测量仪器的选择、测量条件的控制、测量步骤的执行等，确保测量结果的准确性和可靠性。

3、试验程序：标准对光纤涂覆层几何参数的试验程序进行了规定，包括样品的选取、测量次数的要求、数据的处理等，为光纤产品的尺寸参数测试提供了完整的操作流程。

4、数据处理和结果判定：标准对测量数据的处理和结果的判定进行了规定，包括数据的统计分析方法、结果的合格判定标准等，确保结果的科学性和公正性。

四、测量仪器

标准对测量光纤涂覆层几何参数所需的仪器进行了规定，包括测量仪器的类型、精度、校准等要求，以确保测量结果的准确性和可重复性。

五、测量条件

标准对测量过程中的环境条件、温度、湿度等进行了规定，以减少外部因素对测量结果的影响，提高测量的准确性。

六、数据记录和报告

标准要求对测量过程中的数据进行详细记录，并按照规定的格式编制测试报告，以便于数据的追溯和分析。

七、标准的意义

GB/T 15972.21-2008标准的发布和实施，对于提高光纤产品的质量和可靠性、促进光纤产业的健康发展具有重要意义。通过统一的测量方法和试验程序，可以有效地控制光纤产品的尺寸参数，确保光纤产品的性能满足通信网络的需求。

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