JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应校准规范》

JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应校准规范》基本信息

标准号：JJF 1150-2006

中文名称：《光电探测器相对光谱响应校准规范》

发布日期：2006-05-23    

实施日期：2006-11-23

发布部门：国家质量监督检验检疫总局    

归口单位：全国光学计量技术委员会    

起草单位：中国测试技术研究院

起草人：曹远生    

中国标准分类号：A60光学计量

国际标准分类号：17.180光学和光学测量

JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应校准规范》介绍

国家质量监督检验检疫总局于2006年发布了JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应校准规范》。

一、标准的适用范围

JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应校准规范》主要适用于光电探测器的相对光谱响应校准。该标准规定了校准方法、校准设备、校准过程、校准结果的评估和记录等方面的要求。

二、校准方法

1、单色仪法：利用单色仪产生单色光，通过光电探测器测量其响应，从而得到相对光谱响应。

2、光谱仪法：利用光谱仪测量光电探测器的光谱响应，通过计算得到相对光谱响应。

3、标准光源法：利用标准光源产生已知光谱分布的光，通过光电探测器测量其响应，从而得到相对光谱响应。

三、校准设备

1、单色仪：具有高光谱分辨率和高波长稳定性的单色仪。

2、光谱仪：具有高光谱分辨率和高波长准确性的光谱仪。

3、标准光源：具有已知光谱分布的标准光源。

4、光电探测器：需要校准的光电探测器。

5、其他辅助设备：如电源、信号处理设备等。

四、校准过程

1、准备工作：检查校准设备的工作状态，确保设备正常运行。

2、测量基准响应：利用标准光源测量光电探测器的基准响应。

3、测量相对光谱响应：利用单色仪法、光谱仪法或标准光源法测量光电探测器的相对光谱响应。

4、数据处理：对测量数据进行处理，计算相对光谱响应。

5、结果评估：对校准结果进行评估，判断是否满足标准要求。

五、校准结果的评估和记录

1、结果评估：对校准结果进行评估，判断是否满足标准要求。如不满足要求，需要重新进行校准。

2、结果记录：详细记录校准过程和结果，包括校准方法、校准设备、测量数据、数据处理方法等。

3、报告编制：根据校准结果编制校准报告，报告应包括校准结果、评估结论等内容。

JJF 1150-2006《光电探测器相对光谱响应校准规范》的发布和实施，对于确保光电探测器的性能和可靠性具有重要意义。通过遵循该标准进行校准，可以提高光电探测器的测量精度。

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