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SJ 20642/5-1998《半导体光电模块GH82型光耦合器详细规范》

SJ 20642/5-1998更新时间: 2025-03-25

标准详情

SJ 20642/5-1998《半导体光电模块GH82型光耦合器详细规范》基本信息

标准号:SJ 20642/5-1998

中文名称:《半导体光电模块GH82型光耦合器详细规范》

发布日期:1998-03-11    

实施日期:1998-05-01

发布部门:中华人民共和国电子工业部    

归口单位:中国电子技术标准化研究所    

起草单位:电子工业部第四十四研究所

起草人:顾振球、常利民、朱晓东、魏爱新    

中国标准分类号:L5980

SJ 20642/5-1998《半导体光电模块GH82型光耦合器详细规范》介绍

SJ 20642/5-1998《半导体光电模块GH82型光耦合器详细规范》是中国电子工业部在1998年3月11日发布的一项标准,该标准自1998年5月1日起正式实施。

一、标准适用范围

本标准适用于半导体光电模块GH82型光耦合器的生产和检验。GH82型光耦合器是一种利用光电效应实现电信号隔离的半导体器件,广泛应用于电子设备中,以实现信号的传输和隔离。

二、标准主要内容

1、技术要求

外观检查:光耦合器的外观应无裂纹、破损、污染等缺陷。

电性能参数:包括但不限于最大正向电流、最大反向电流、最大正向电压、最小发光二极管正向电流等。

光性能参数:规定了发光二极管的发光强度、接收器的最小光电流等。

环境适应性:光耦合器应能在规定的温度、湿度等环境下正常工作。

安全性要求:需要满足相关的安全标准,如绝缘电阻、耐压等。

2、测试方法

外观检查:通过目视检查和显微镜检查来进行。

电性能测试:使用专业的测试设备,按照规定的测试条件进行。

光性能测试:在标准环境下,使用光功率计等设备进行测试。

环境适应性测试:在规定的温度、湿度等条件下进行测试。

安全性测试:使用耐压测试仪等设备进行测试。

3、检验规则

出厂检验:每批产品出厂前需进行检验,确保产品符合标准要求。

型式检验:新产品或产品改进后需进行型式检验,以确认产品符合标准。

抽样方法:规定了抽样的数量和方法,以保证检验结果的代表性。

4、标志、包装、运输和储存

标志:产品应有清晰的标识,包括型号、生产日期等信息。

包装:产品应采用适当的包装,以保护产品在运输过程中不受损害。

运输:运输过程中应避免剧烈振动和冲击。

储存:产品应储存在干燥、阴凉、无腐蚀性气体的环境中。

三、标准的实施意义

SJ 20642/5-1998标准的实施,对于提高GH82型光耦合器的产品质量,保障电子设备的安全稳定运行具有重要意义。它为生产商提供了明确的生产和检验指导,同时也为用户在选择和使用光耦合器时提供了参考依据。

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