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SJ 20789-2000《MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法》

SJ 20789-2000更新时间: 2025-04-18

标准详情

SJ 20789-2000《MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法》基本信息

标准号:SJ 20789-2000

中文名称:《MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法》

发布日期:2000-10-20    

实施日期:2000-10-20

发布部门:中华人民共和国信息产业部    

提出单位:中华人民共和国信息产业部    

归口单位:中国电子技术标准化研究所    

起草单位:杭州电源技术研究所

起草人:叶奇放、易本健、赵英等    

中国标准分类号:L5961

SJ 20789-2000《MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法》介绍

SJ 20789-2000《MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法》是中国中华人民共和国信息产业部于2000年10月20日发布并实施的一项标准,旨在规范MOSFET热敏参数的快速筛选试验方法,提高电子设备的质量和可靠性。

一、标准制定背景

在电子设备的设计和制造过程中,MOSFET的热敏参数对其性能和可靠性有着重要影响。传统的热敏参数测试方法往往耗时较长,无法满足现代电子设备快速生产的需求。为了解决这一问题,信息产业部制定了SJ 20789-2000标准,旨在提供一种快速、准确的MOSFET热敏参数筛选试验方法,以提高电子设备的生产效率和质量。

二、标准主要内容

SJ 20789-2000标准主要规定了以下几个方面的内容包括:

1、适用范围:该标准适用于MOSFET的热敏参数快速筛选试验,以确保其在高温环境下的性能和可靠性。

2、术语和定义:标准对相关术语和定义进行了明确,如MOSFET、热敏参数、快速筛选试验等,以便在试验过程中避免歧义。

3、试验设备和仪器:标准规定了进行快速筛选试验所需的设备和仪器,包括温度控制设备、测量仪器等,以确保试验的准确性和可重复性。

4、试验条件:标准详细描述了试验过程中的温度控制、环境条件等要求,以确保试验结果的一致性和可靠性。

5、试验方法:标准规定了具体的试验步骤和方法,包括样品的准备、试验过程的控制、数据的记录和分析等,以指导试验人员进行规范操作。

6、结果评定:标准对试验结果的评定方法进行了规定,包括合格标准、不合格标准的判定等,以确保试验结果的公正性和准确性。

三、标准实施的意义

SJ 20789-2000标准的实施具有以下几个方面的意义:

1、提高电子设备质量:通过规范MOSFET热敏参数的快速筛选试验方法,可以确保电子设备在高温环境下的性能和可靠性,从而提高电子设备的整体质量。

2、提高生产效率:该标准的实施可以缩短MOSFET热敏参数测试的时间,提高电子设备的生产效率,降低生产成本。

3、促进技术创新:标准的实施可以推动电子设备制造商不断优化和改进生产工艺,促进技术创新和产品升级。

4、保障消费者权益:通过规范MOSFET热敏参数的快速筛选试验方法,可以确保消费者购买到性能稳定、可靠的电子设备,保障消费者的合法权益。

SJ 20789-2000《MOS场效应晶体管热敏参数快速筛选试验方法》标准的制定和实施,对于提高电子设备的质量、促进电子行业的发展具有重要的意义。

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