标准详情
SJ 50033/126-1997《半导体分立器件2DK13型硅肖特基开关整流二极管详细规范》基本信息
标准号：SJ 50033/126-1997
中文名称：《半导体分立器件2DK13型硅肖特基开关整流二极管详细规范》
发布日期：1997-06-17
实施日期：1997-10-01
发布部门：中华人民共和国电子工业部
提出单位：中华人民共和国电子工业部
归口单位：中国电子技术标准化研究所
起草单位：济南半导体元件实验室
起草人：朱志光、贾惠蓉
中国标准分类号：L5961
SJ 50033/126-1997《半导体分立器件2DK13型硅肖特基开关整流二极管详细规范》介绍
SJ 50033/126-1997《半导体分立器件2DK13型硅肖特基开关整流二极管详细规范》是由中华人民共和国电子工业部发布的一项标准，于1997年6月17日正式发布，并于同年10月1日正式实施。
一、产品概述
2DK13型硅肖特基开关整流二极管是一种半导体器件，主要用于整流、开关等电路中。其具有体积小、重量轻、功耗低、响应速度快等优点，在电子设备中得到了广泛的应用。
二、性能指标
1、最大整流电流：标准规定，2DK13型硅肖特基开关整流二极管的最大整流电流应不小于30A。
2、反向击穿电压：标准规定，2DK13型硅肖特基开关整流二极管的反向击穿电压应不小于1000V。
3、正向压降：标准规定，在最大整流电流下，2DK13型硅肖特基开关整流二极管的正向压降应不大于1.1V。
4、反向恢复时间：标准规定，2DK13型硅肖特基开关整流二极管的反向恢复时间应不大于50ns。
三、测试方法
1、外观检查：对产品的外观进行目视检查，确保产品表面无明显缺陷。
2、电性能测试：对产品的电性能指标进行测试，包括最大整流电流、反向击穿电压、正向压降、反向恢复时间等。
3、温度特性测试：对产品在不同温度下的性能进行测试，以评估其温度稳定性。
4、耐久性测试：对产品进行长时间的工作测试，以评估其耐久性。
四、质量要求
1、产品应符合标准规定的性能指标要求。
2、产品的外观应无明显缺陷，符合标准规定的要求。
3、产品在规定的测试条件下，应表现出良好的稳定性和耐久性。
4、产品的生产过程应符合国家有关质量管理体系的要求。
