标准详情
SJ 20642/3-1998《半导体光电模块GD83型DIN—FET光接收模块详细总规范》基本信息
标准号：SJ 20642/3-1998
中文名称：《半导体光电模块GD83型DIN—FET光接收模块详细总规范》
发布日期：1998-03-11
实施日期：1998-05-01
发布部门：中华人民共和国电子工业部
归口单位：中国电子技术标准化研究所
起草单位：电子工业部第十三研究所
起草人：顾振球、常利民、朱晓东、魏爱新
中国标准分类号：L5980
SJ 20642/3-1998《半导体光电模块GD83型DIN—FET光接收模块详细总规范》介绍
中华人民共和国电子工业部于1998年3月11日发布了SJ 20642/3-1998《半导体光电模块GD83型DIN—FET光接收模块详细总规范》（以下简称“本标准”），并于1998年5月1日正式实施。
一、标准概述
本标准主要针对半导体光电模块中的GD83型DIN—FET光接收模块，对产品的技术要求、试验方法、检验规则等方面进行了详细规定。
二、技术要求
1、产品特性
本标准规定了GD83型DIN—FET光接收模块的主要特性，包括工作波长、接收灵敏度、输入光功率、输出电流等。这些特性是衡量光接收模块性能的关键指标，对于通信系统的正常运行至关重要。
2、环境要求
本标准还对光接收模块在不同环境条件下的使用提出了要求。例如，对于温度、湿度、气压等环境因素，都给出了具体的适应范围。这有助于确保光接收模块在各种环境下都能保持良好的性能。
3、可靠性要求
为了提高光接收模块的可靠性，本标准规定了一系列可靠性指标，如MTBF（平均无故障时间）和MTTR（平均故障修复时间）。这些指标有助于评估光接收模块在实际应用中的稳定性和维护成本。
三、试验方法
1、性能测试
性能测试主要针对光接收模块的主要特性，如接收灵敏度、输入光功率等。通过这些测试，可以评估光接收模块在实际应用中的性能表现。
2、环境适应性测试
环境适应性测试主要评估光接收模块在不同环境条件下的适应能力。如对于温度变化、湿度变化等环境因素，都需要进行相应的测试。
3、可靠性测试
可靠性测试主要评估光接收模块的MTBF和MTTR等指标。通过这些测试，可以了解光接收模块在实际应用中的可靠性表现。
四、检验规则
1、抽样检验
抽样检验是通过对一定数量的产品进行检验，来评估整个批次的质量。本标准对抽样检验的方法和数量都进行了明确规定。
2、批量检验
批量检验是对整个生产批次的产品进行检验，以确保每个产品都符合标准要求。本标准对批量检验的程序和要求都进行了详细规定。
3、不合格品处理
对于检验不合格的产品，本标准规定了相应的处理方法，如返工、报废等。这有助于确保光接收模块的最终质量。
