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SJ 20062-1992《半导体分立器件 ３ＤＧ２１０型ＮＰＮ硅超高频低噪声差分对晶体管详细规范》基本信息
标准号：SJ 20062-1992
中文名称：《半导体分立器件 ３ＤＧ２１０型ＮＰＮ硅超高频低噪声差分对晶体管详细规范》
发布日期：1992-11-19
实施日期：1993-05-01
发布部门：中国电子工业总公司
提出单位：中国电子工业总公司科技质量局
归口单位：中国电子技术标准化研究所
起草单位：中国电子技术标准化研究所和国营八七一厂
起草人：王长福、黄世杰、李红
中国标准分类号：B01技术管理
SJ 20062-1992《半导体分立器件 ３ＤＧ２１０型ＮＰＮ硅超高频低噪声差分对晶体管详细规范》介绍
SJ 20062-1992《半导体分立器件 3DG210型NPN硅超高频低噪声差分对晶体管详细规范》是中国电子工业总公司于1992年11月19日发布的一项标准，自1993年5月1日起正式实施。
一、技术要求
标准对3DG210型NPN硅超高频低噪声差分对晶体管的技术要求进行了详细规定。晶体管的型号、名称、主要参数等基本信息应符合标准要求。晶体管的电性能参数，如直流电流增益、集电极-发射极击穿电压、集电极最大电流等，也应满足标准规定的范围。晶体管的外观质量、尺寸等也应符合标准要求。
二、试验方法
标准对3DG210型NPN硅超高频低噪声差分对晶体管的试验方法进行了明确规定。试验方法包括电性能参数测试、外观检查、尺寸测量等。电性能参数测试主要包括直流电流增益、集电极-发射极击穿电压、集电极最大电流等指标的测试。外观检查主要检查晶体管的外观质量，如无裂纹、无破损等。尺寸测量主要测量晶体管的尺寸，如外形尺寸、引脚长度等。
三、检验规则
标准对3DG210型NPN硅超高频低噪声差分对晶体管的检验规则进行了明确规定。检验规则主要包括检验分类、抽样方法、判定规则等。检验分类主要包括例行检验和型式检验。例行检验是对每批产品进行的检验，型式检验是对产品进行的全面性能检验。抽样方法主要包括随机抽样和分层抽样。判定规则主要包括合格判定和不合格判定。
四、标志、包装、运输及贮存
标准对3DG210型NPN硅超高频低噪声差分对晶体管的标志、包装、运输及贮存进行了明确规定。标志应包括产品型号、名称、生产厂家等信息。包装应符合标准要求，如防潮、防尘、防震等。运输过程中应避免碰撞、挤压等损坏晶体管。贮存环境应保持干燥、通风、无腐蚀性气体等。
