标准详情
SJ 52453/1-1996《XGS80/120环形低温度系数稀土永磁体详细规范》基本信息
标准号:SJ 52453/1-1996
中文名称:《XGS80/120环形低温度系数稀土永磁体详细规范》
发布日期:1996-08-30
实施日期:1997-01-01
发布部门:中华人民共和国电子工业部
归口单位:中国电子技术标准化研究所
起草单位:国营八九九厂
起草人:刘祖权、张振汉、赵加林、胡德贵
中国标准分类号:S01技术管理
SJ 52453/1-1996《XGS80/120环形低温度系数稀土永磁体详细规范》介绍
SJ 52453/1-1996《XG S80/120环形低温度系数稀土永磁体详细规范》是由中华人民共和国电子工业部于1996年8月30日发布的一项国家标准。该标准自1997年1月1日起正式实施。
一、标准适用范围
本标准适用于XG S80/120环形低温度系数稀土永磁体的生产和检测。这些磁体主要用于电机、发电机、磁选机、磁悬浮、磁共振成像等设备和系统,具有较高的磁性能和较低的温度系数,能够在较宽的温度范围内保持稳定的磁性能。
二、技术要求
1、材料要求
标准规定了XG S80/120环形低温度系数稀土永磁体的化学成分、晶粒度、微观结构等材料要求。这些要求能够确保磁体具有优异的磁性能和良好的机械性能。
2、尺寸和公差
标准对磁体的尺寸和公差进行了详细的规定,包括磁体的直径、高度、厚度等尺寸参数,以及相应的公差范围。这些规定有助于保证磁体的一致性和互换性。
3、磁性能
标准对磁体的磁性能进行了严格的规定,包括剩余磁感应强度、内禀矫顽力、最大磁能积等参数。这些参数是衡量磁体性能的重要指标,对于磁体的应用具有重要意义。
4、温度系数
作为低温度系数稀土永磁体,标准对磁体的温度系数进行了规定,要求在-40℃至+200℃的温度范围内,磁体的磁性能变化应控制在较小的范围内。
三、检测方法
标准对XG S80/120环形低温度系数稀土永磁体的检测方法进行了规定,包括磁性能的测试、尺寸的测量、外观检查等。这些检测方法有助于确保磁体的质量符合标准要求。
四、包装、标志和贮存
标准对磁体的包装、标志和贮存提出了要求,以保证磁体在运输和储存过程中不受损坏,同时方便用户识别和使用。
SJ 52453/1-1996《XG S80/120环形低温度系数稀土永磁体详细规范》是一项重要的国家标准,对于规范稀土永磁体的生产和应用具有重要意义。通过本标准的实施,可以提高稀土永磁体的产品质量和性能稳定性,促进稀土永磁材料在各个领域的广泛应用。
