标准详情
SJ 20184-1992《半导体分立器件 ＣＳ３８２１、３８２２、３８２３型场效应晶体管详细规范》基本信息
标准号：SJ 20184-1992
中文名称：《半导体分立器件 ＣＳ３８２１、３８２２、３８２３型场效应晶体管详细规范》
发布日期：1992-11-19
实施日期：1993-05-01
发布部门：中国电子工业总公司
提出单位：中国电子工业总公司科技质量局
归口单位：中国电子技术标准化研究所
起草单位：中国电子技术标准化研究所和国营七四六厂
起草人：王长富、张宗国、吴志龙、刘美英
中国标准分类号：D01技术管理
SJ 20184-1992《半导体分立器件 ＣＳ３８２１、３８２２、３８２３型场效应晶体管详细规范》介绍
中国电子工业总公司于1992年11月19日发布了《半导体分立器件 CＳ３８２１、３８２２、３８２３型场效应晶体管详细规范》（以下简称“本标准”），并于1993年5月1日开始实施。
一、标准概述
本标准规定了CS3821、CS3822、CS3823型场效应晶体管的技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和储存等方面的内容。这些晶体管主要用于音频放大器、功率放大器、调制解调器等电子设备中。
二、技术要求
1、外观质量
本标准对晶体管的外观质量提出了具体要求，包括无裂纹、无缺损、无氧化等。
2、电性能参数
本标准规定了晶体管的电性能参数，如最大功耗、最大电流、最大电压等，确保晶体管在正常工作条件下的性能。
3、温度特性
本标准对晶体管在不同温度下的性能进行了规定，适应不同环境条件下的使用。
三、测试方法
本标准详细规定了晶体管的测试方法，包括外观检查、电性能测试、温度特性测试等，确保晶体管的性能符合标准要求。
1、外观检查
外观检查主要包括对晶体管的外观缺陷、尺寸偏差等进行检查。
2、电性能测试
电性能测试包括对晶体管的最大功耗、最大电流、最大电压等参数的测试。
3、温度特性测试
温度特性测试主要是在不同温度条件下对晶体管的性能进行测试，评估其在不同环境下的适应性。
四、检验规则
1、抽样方法
抽样方法主要包括随机抽样和批次抽样两种方式。
2、检验项目
检验项目包括外观检查、电性能测试、温度特性测试等。
3、判定规则
判定规则主要包括合格判定和不合格判定两种，确保晶体管的质量。
五、标志、包装、运输和储存
1、标志
晶体管上应有清晰的型号、规格、生产日期等标志。
2、包装
晶体管的包装应符合防潮、防尘、防震等要求。
3、运输
晶体管在运输过程中应避免剧烈振动和碰撞。
4、储存
晶体管应储存在干燥、阴凉、通风的环境中，避免高温和潮湿。
